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日本bluevision鹵素?zé)艄庠礄z測異物污染劃痕 BVM1022D/BVM1021D 可變波長光源是一種以鹵素?zé)魹橹鞴庠?，通過選擇輸出波長即可發(fā)光的新型光源。本產(chǎn)品使用LVF（線性可變?yōu)V光片）進(jìn)行波長選擇。

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日本KYORITSU照度計(jì)高精度測量高性能進(jìn)口 KYORITSU/日本共立 KEW 5204 / 5204BT ?配備Bluetooth®通信功能 ?兼容KEW Smart Advanced ?符合JIS C 1609-1:2006通用標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)字照度計(jì) ?測量范圍寬廣，從0.1到199900 lx ?配備自動(dòng)調(diào)零功能，可實(shí)現(xiàn)高精度照度能夠測量 - 能夠測量 LED 照度

日本techvision UV照射裝置固化系統(tǒng)LED燈源 UVC-200A/300A 這種UV固化系統(tǒng)便于UV曝光后剝離UV膠帶。膠帶是用于研削中的表面保護(hù)和晶片處理工序中膠帶的切割的UV膠帶。 UV-LED固化系統(tǒng)使用波長為365納米的LED（發(fā)光二極管）光源進(jìn)行UV曝光。LED提供了許多性能優(yōu)勢。

山田光學(xué)YAMADA半導(dǎo)體用鹵素光源照明裝置 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

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YAMADA鹵素光源照明設(shè)備高強(qiáng)度檢查燈進(jìn)口 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工 是宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板加工中最費(fèi)人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。

日本進(jìn)口yamada鹵素?zé)艄庠囱b置精密檢測 YAMADA/日本 YP-150I/YP-250I 高亮度鹵素光源裝置在半導(dǎo)體芯片及液晶基板加工途中 人工懸掛最終成品表面的異物、劃痕、研磨不均、霧、滑動(dòng)等 用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置。