日本rikenkeiki光學測量儀用于半導體材料等 AC-5/AC-3 特點介紹

能夠使用平板開放式計數(shù)器對高達 4000 cps 的光電子進行計數(shù)

能夠安裝尺寸達 180 x 180 毫米的大型樣品

任何位置都可以通過點測量進行測量。

使用樣品更換器 (*) 可自動測量多達 25 個板狀或粉末狀樣品。

通過使用Xe（氙）燈（*），可以高靈敏度地測量不易產(chǎn)生電子的

日本rikenkeiki光學測量儀用于半導體材料等 AC-5/AC-3 規(guī)格參數(shù)

有機EL和復制感光材料的電離勢測量

硬盤和磁帶摩擦學研究

半導體和引線框架表面氧化態(tài)的測量

精密電子材料中分子級薄膜污染檢測

測量以下功能材料的電離勢：

有機EL、有機太陽能電池、有機晶體管、復印感光材料、鈣鈦礦太陽能電池、量子點、碳納米材料、催化劑材料、蓄電池、燃料電池、半導體材料（Si、GaN） 、GaAs等）、透明導電膜（ITO、FTO等）

4000cps

光譜儀 光柵式單色儀

最大樣本量 面積180×180mm以下，厚度1±0.2mm以下

溫濕度范圍 溫度范圍15-35℃，濕度20-60%RH

電源 AC100V-240V

50/60Hz 5A (MAX)

*不包括控制電腦

外形尺寸 光源部分 LC-1：約 450(W) x 300(H) x 500(D)mm

測量部分 DC-1：約 600(W) x 380(H) x 500(D)mm

重量 光源部分 LC-1：約 35 kg

測量部分 DC-1：約 50 kg *不包括控制 PC