日本Anritsu光學傳感裝置波長掃頻激光光源 Anritsu/安立 AQA5500P/AQB5500P 特點介紹

波長掃頻光源（Wavelength Swept Light Source、波長掃頻激光光源、波長掃頻光源）是產(chǎn)生波長連續(xù)變化的激光的光源。

它適用于使用 OFDR（光頻域反射計）進行形狀測量和位移測量，OFDR 是一種利用激光相干性的光學測量方法。

OFDR 方法也被廣泛稱為 FMCW（調(diào)頻連續(xù)波）方法。

波長掃頻光源用作精密厚度測量、振動測量、表面檢查、工業(yè)OCT（工業(yè)OCT）等工業(yè)應(yīng)用、眼科OCT和血管內(nèi)OCT等醫(yī)療應(yīng)用以及位移/波動測量等工業(yè)應(yīng)用的傳感光源。

它應(yīng)用于廣泛的領(lǐng)域，包括基礎(chǔ)設(shè)施/工廠測量應(yīng)用、長度測量領(lǐng)域等。

安立的波長掃描光源可以連續(xù)掃描具有窄線寬的單縱模波長，同時抑制模式跳躍，從而產(chǎn)生高度相干的波長掃描光。

通過使用這種波長掃頻光源，您可以以更高的精度測量更寬的距離范圍。

安立的波長掃描光源通過的光學布置改進了一般的利特曼布置，使其可以利用MEMS掃描鏡實現(xiàn)高速波長掃描。

在該光學系統(tǒng)中，從有效腔端面到MEMS掃描鏡的反射面構(gòu)造了一個外腔，并且在由腔長決定的多個縱模中，衍射光柵的波長選擇性允許被設(shè)計成這樣僅選擇一種模式并振蕩。

日本Anritsu光學傳感裝置波長掃頻激光光源 Anritsu/安立 AQA5500P/AQB5500P 規(guī)格參數(shù)

精密厚度測量

光學零件厚度測量：玻璃、鏡片等透明物體的厚度測量

薄膜和鋼板的厚度測量和表面粗糙度測量

半導體晶圓厚度測量

振動測量

旋轉(zhuǎn)體振幅的測量：鉆頭、圓盤等偏心率、表面跳動的測量。

振動體的幅寬測量和頻率測量：揚聲器等。

表面檢查

工件毛刺、劃痕的檢查

測量焊料表面的微小凹凸不平