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PRODUCT CLASSIFICATION
產(chǎn)品分類(lèi)產(chǎn)品展示/ Product display
日本oji-keisoku光軸測(cè)量裝置配向角位相差 PAM-PR300對(duì)光學(xué)薄膜偏振軸方位、取向角及相位差值進(jìn)行測(cè)定無(wú)需個(gè)人差異，可簡(jiǎn)便且短時(shí)間內(nèi)測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào)：PAM-PR300廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商更新時(shí)間：2024-10-10訪(fǎng) 問(wèn) 量：249
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日本oji-keisoku光軸測(cè)量裝置配向角位相差 PAM-PR300 特點(diǎn)介紹
對(duì)光學(xué)薄膜偏振軸方位、取向角及相位差值進(jìn)行測(cè)定
無(wú)需個(gè)人差異，可簡(jiǎn)便且短時(shí)間內(nèi)測(cè)量
■特點(diǎn)
測(cè)定方式
旋轉(zhuǎn)偏光鏡方式
平行尼科耳旋轉(zhuǎn)方式
交叉尼科耳旋轉(zhuǎn)方式
測(cè)定波長(zhǎng)
590nm
選項(xiàng)：450nm、550nm、630nm
樣品尺寸
□ 30～250mm
厚度20mm以下
測(cè)定面積
33mm2（5.8mm見(jiàn)方：感光體面）
測(cè)定項(xiàng)目
偏光 軸向方位、方位角、相位差
日本oji-keisoku光軸測(cè)量裝置配向角位相差 PAM-PR300 規(guī)格參數(shù)
測(cè)定項(xiàng)目
偏光軸方位、配向角、位相差
測(cè)定対象
光學(xué)薄膜、偏振板
測(cè)定原理
旋轉(zhuǎn)檢光子法、平行二卷旋轉(zhuǎn)法、正交二卷旋轉(zhuǎn)方法
測(cè)定時(shí)間
約4秒（偏振軸測(cè)量）
測(cè)定波長(zhǎng)
590nm（可選=450nm、630nm等）
樣品尺寸
30mm~250mm，t=20mm以下
系統(tǒng)配置
測(cè)定裝置主體、光源裝置、筆記本電腦（Windows10）
主體尺寸
W380XH390 XD610 mm
本體重量
27kg
偏振軸方位測(cè)定相位差測(cè)定方式旋轉(zhuǎn)檢光子法平行尼可旋轉(zhuǎn)法測(cè)定項(xiàng)目吸收軸方位或透過(guò)軸方位相位差值、取向角構(gòu)成角度分辨率0.001°0.0 01°角度精度（3σ）0.006°0.017°相位差分辨率N/A 0.01nm相位差精度（3σ）N/A 0.03nm光（LED）固定試樣臺(tái)檢光子A
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